表面异物环球国际注册

 

有机异物环球国际注册 无机异物环球国际注册 未知异物环球国际注册 产品异常现象比对环球国际注册

 

无机异物环球国际注册是指针对产品表面的无机异物,根据异物的形态、检测深度及检测面积等差异而选用特定的仪器,对其无机成分进行环球国际注册,测定其中元素成分及含量,进而环球国际注册组成的一种环球国际注册方法。相较与有机异物,无机异物则表现出质地更硬,色泽更深,且较不透光等特点。无机异物的环球国际注册手段主要有以下几种:

 

环球国际注册手段 典型应用 环球国际注册特点 参考标准
扫描电子显微镜&X射线能谱SEM/EDS 表面微观形貌观察;微米级尺寸量测;微区成分环球国际注册;污染物环球国际注册 能快速的对各种试样的微区内Be~U的大部分元素进行定性、定量环球国际注册,环球国际注册时间短 JY/T 010-1996
GB/T 17359-2012
飞行时间二次离子质谱TOF-SIMS 有机材料和无机材料的表面微量环球国际注册;表面离子成像;深度剖面环球国际注册 优异的掺杂剂和杂质检测灵敏度可以检测到ppm或更低的浓度;深度剖析具有良好的检测限制和深度辨析率;小面积环球国际注册 ASTM E1078-2009
ASTM E1504-2011
ASTM E1829-2009
动态二次离子质谱D-SIMS 产品表面微小的异物环球国际注册;氧化膜厚度环球国际注册;掺杂元素的含量测定 环球国际注册区域小,能环球国际注册≥10μm直径的异物成分;环球国际注册深度浅,可测量≥1nm样品;检出限高,一般是ppm-ppb级别 ASTM E1078-2009
ASTM E1504-2011
ASTM E1829-2009
俄歇电子能谱AES 缺陷环球国际注册;颗粒环球国际注册;深度剖面环球国际注册;薄膜成分环球国际注册 可以作表面微区的环球国际注册,并且可以从荧光屏上直接获得俄歇元素像 GB/T 26533-2011
X射线光电子能谱XPS 有机材料、无机材料、污点、残留物的表面环球国际注册;表面成分及化学状态信息;深度剖面环球国际注册 环球国际注册层薄,环球国际注册元素广,可以环球国际注册样品表面1-12nm的元素和元素含量 GB/T 30704-2014

 

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案例环球国际注册

案件背景:

某客户产品表面放大观察后发现红色异物,影响产品使用性能。

 

检测手段:

SEM/EDS环球国际注册

 

检测标准:

JY/T 010-1996    环球国际注册型扫描电子显微镜方法通则

GB/T 17359-2012  微束环球国际注册 能谱法定量环球国际注册

 

环球国际注册方法简介:

1、通过显微镜放大观察发现产品表面存在大量红色异物,见下图:

 

无机异物环球国际注册

 

无机异物环球国际注册

 

2、对该异物样品进行SEM/EDS环球国际注册,判定其它无机成分。对样品进行剥金处理后,对样品表面镀Pt30s,放入SEM样品室中,对测试位置进行放大观察,并用EDS进行成分环球国际注册:

 

无机异物环球国际注册 无机异物环球国际注册

 

 

Spectrum C O Al K Cl Au Ca Cr Fe Cu Total
1 12.77 19.38 1.54 / 0.48 12.24 2.53 30.13 11.54 9.39 100.00
2 26.66 15.31 0.64 0.41 0.31 7.49 2.20 30.53 10.11 6.33 100.00

 

3、根据SEM/EDS测试结果可知,异物主成分为Cr的氧化物。

 

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