环球国际官网检测亮相2016武汉光博会

2016-10-31  浏览量:430

2016年11月3-5日,第十三届“中国光谷”国际光电子博览会暨论坛(简称“光博会”)将于武汉国际博览中心盛大开幕,光博会由国家九部委和湖北省政府联合主办,创办至今已成功举办十二届,累计全球30多个国家和地区的4500余家知名企业参展,35万多专业观众参观,举办120多场论坛。

 

环球国际官网检测长期致力于电子电器行业的技术检测,受邀参加该展会,同时也为即将莅临展会现场的专业观众准备了诸多个惊喜,与各位技术大咖们共享高端技术的饕餮盛宴。展会现场,环球国际官网检测将为您展示:

 

电子产品失效分析

 

项目介绍:失效分析对产品的生产和使用都具有重要的意义,失效可能发生在产品寿命周期的各个阶段,发生在产品研制阶段、生产阶段到使用阶段的各个环节,通过分析工艺废次品、早期失效、试验失效、中试失效以及现场失效的失效产品明确失效模式、分析失效机理,最终明确失效原因。

 

资质证书:中国机械工程学会失效分析分会网点单位

环球国际官网检测

 

检测项目:PCB/PCBA失效分析、电子元器件失效分析、金属材料及零部件失效分析、高分子材料失效分析、复合材料失效分析、涂/镀层失效分析。

 

环球国际官网检测 环球国际官网检测
PCB爆板 PCB电化学迁移
环球国际官网检测 环球国际官网检测
光耦缺陷分析 PCB界面分层失效

 

电子产品全面解决方案

 

项目介绍:环球国际官网检测专业技术工程师在电子元器件、光电器件领域拥有丰富的经验,在产品的的质量评价、失效分析等方面积累了大量的实际案例,可针对客户在研发、认证、生产及客服投诉等不同阶段提供不同的解决方案,使客户可以快速解决问题,抢占市场先机。

 

检测项目:PCB/PCBA全面解决方案、LED全面解决方案、新材料、汽车材料、航空材料。

 

环球国际官网检测 环球国际官网检测
PCB-BGA焊球开路 PCB上锡不良
环球国际官网检测 环球国际官网检测
LED基板蚀刻线路开路 LED绑定点开裂

 

三维X射线扫描(CT扫描)

 

项目介绍:CT是采用机算计断层扫描技术对产品进行无损检测 (NDT)和无损评价(NDE)的最佳手段。利用断层成像技术,可实现产品无损可视化测量、组装瑕疵或材料分析。CT扫描取代传统的破坏性监测和分析,任何方向上的非破坏性切片和成像,不受周围细节特征的遮挡,可直接获得目标特征的空间位置、形状及尺寸信息。

 

检测项目:缺陷分析、尺寸测量、逆向工程、数模比对

 

环球国际官网检测 环球国际官网检测
PCB-BGA焊球开路 PCB上锡不良
环球国际官网检测 环球国际官网检测
LED基板蚀刻线路开路 LED绑定点开裂

 

环球国际官网检测非常感谢长期以来每一位客户的支持与关注,在此诚邀您莅临我司展位参观洽谈。

 

 

环球国际官网检测

 

福利来袭

1.来了就送精美礼品;

2.展会现场精彩活动,技术搭配娱乐,您的不二选择;

3.2016行业经典案例解析期刊,技术大咖的掌上资料库,您值得拥有。

 

*** 结束 ***

 

MTT(环球国际官网检测)是一家从事材料及零部件品质检验、鉴定、认证及失效分析服务的第三方实验室,网址:sltown.com,联系电话:400-850-4050。

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