2016纳博会,聚焦环球国际客服检测

2016-10-31  浏览量:283

2016年10月26-28日,环球国际客服检测亮相第七届中国国际纳米技术产业博览会(简称“纳博会”),本届博览会主要聚焦纳米新材料、分析与检测、微纳制造、纳米生物与医药、纳米环保与清洁等领域的产品与技术,展会现场,俄罗斯展团、加拿大展团、伊朗展团、韩国展团、北京展团、深圳展团、台湾展团及沙特展团等超过8个国际与地区展团携带纳米技术领域最新的产品与技术亮相纳博会。

 

环球国际客服检测受邀参加本次大会,目前先进的纳米级材料检测技术现场展示与专业工程师的讲解是展会的一大亮点,本次展会主要分享了高端表面分析技术,利用电子、光子、离子、原子、强电场、热能等与固体表面的相互作用,测量从表面散射或发射的电子、光子、离子、原子、分子的能谱、光谱、质谱、空间分布或衍射图像,得到表面成分、表面结构、表面电子态及表面物理化学过程等信息,具体的高端分析技术如AES、XPS、TOF-SIMS、D-SIMS、FIB、TEM、XRD等,现场专业观众慕名而来,与环球国际客服检测专业技术工程师共同探讨技术问题。

 

环球国际客服检测 环球国际客服检测
环球国际客服检测 环球国际客服检测

 

该展会展示的项目可检测纳米级微区元素定量分析、极表面元素定量分析、元素浓度深度剖析、纳米级超薄膜厚分析、元素价态分析、微米级微区元素定量分析、ppm级别痕量有机物分子式分析、ppb级别掺杂杂质元素浓度深度剖析、微区定位切割、电路修改、晶体取向分析、晶格参数测定等等。环球国际客服检测致力于材料检测,针对纳米材料相关检测项目已非常完善,环球国际客服检测可大大降低材料技术领域创新团队的创业成本和创业难度,提升转化效率和成功率,推动项目的研发和产业化,抢占材料技术领域制高点,也可帮助企业保证产品质量,降低研发成本,为各企业提供一站式检测咨询服务。

 

环球国际客服检测 环球国际客服检测
AES分析某元器件起泡位置存在S污染
环球国际客服检测 环球国际客服检测
晶粒度 FIB电路镀层厚度观察

 

本届纳博会大咖云集,市委常委、副市长、园区工委书记王翔出席开幕式。并邀请美国科学院院士杨培东教授、澳大利亚科学院和工程院院士余艾冰教授、中科院院士江雷研究员和美国斯坦福大学崔屹教授,中国纳米科学中心纳米标准研究室主任葛广路等一批国内外知名专家、企业家,环球国际客服检测在参加展会的同时,不断吸收国际先进的领先技术,致力于为客户提供最优质的技术服务。

 

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