2016 LED失效分析与封装技术专题研讨会

2016-09-02  浏览量:447

一场足以改变产品良率的研讨会

 

环球国际官网检测 深圳半导体照明信息网 深圳市新则兴科技有限公司

先驰精密仪器(东莞)有限公司
LEDinside

中国LED网
主办单位 协办单位 赞助单位 媒体支持

 

LED失效可能发生在产品生命周期的各个阶段,产品设计、原材料、工艺筛选、可靠性试验、现场使用都可能发生失效现象,因此,深刻理解LED失效分析对产品的生产和使用意义非凡。

 

为了更好的服务LED行业客户,创造一个长期稳定的交流平台,便于企业沟通学习,同时分享环球国际官网检测于日常工作中积累的经典案例,帮助客户解决LED产品工艺、技术、测试等各种影响产品品质的问题,环球国际官网检测将于9月23日在深圳·恒丰海悦国际酒店举办2016LED失效分析与封装技术专题研讨会,广邀LED企业专业人士参加。

 

时间地址

时间: 2016年9月23日
地点: 深圳市环球国际官网检测技术股份有限公司
深圳市宝安区石岩镇松白路石岩湖北大方正科技园A3栋一楼

 

课题安排

13:30-14:00 签到
14:00-14:50 LED产品失效分析技术与案例分享
1. LED失效分析简介
2. 固晶和互连不良引起的失效
3. 塑封不良引起的失效
4. 芯片、封装及应用过程中物料不良引起的LED失效
14:50-15:05 茶歇
15:05-15:55 LED灯具结温测试方法及热特性分析
1. LED灯具散热性能的评价方法
2. 电学法实现结构热阻测量的基本原理
3. 不同电气连接条件下等效K系数研究
4. LED结构热阻模型的应用
会议结束后 参观实验室

 

讲师介绍

王君兆

环球国际官网检测 研发经理

中国机械工程学会失效分析分会失效分析专家

IPC China Apex 4-14 CN工作组专家

在电子封装、组装领域有多年的产品研发、工艺开发经验,并于国外核心期刊《Journal of Materials Processing Technology》发表多篇论文。

 

张东旭

深圳市新则兴科技有限公司 产品应用高级工程师

 

章锐华

环球国际官网检测 研发中心 失效分析专家

在LED光学设计方面拥有非常丰富的实践经验与理论基础,曾在第四届LED照明光学技术研讨会会议文集发表专业论文,并已申请多个专利。

专利: 一种照明及设备控制、终端,专利号:ZL 2014 2 0423354.2;
一种芯片级白光LED,专利号:ZL 2014  2 0423870.5。

 

拟邀企业

美的 创维 佳光电子 创显光电 雷曼光电 迈锐光电 艾比森光电 利亚德光电
瑞丰光电 奥拓电子 晶台光电 Flextronics Microsoft Philips 等等  

 

研讨会福利

本次研讨会全程免费,请携带名片参加。名额有限,欲报从速!凭此邀请函可至现场免费领取一份《环球国际官网检测2016案例库》

 

立即报名

报名已截止,感谢您的参与。

 

会议咨询

李蒙:0755-36606307

邮箱:limeng@mttlab.com

 

*** 结束 ***

 

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